美国德克萨斯大学奥斯汀分校教授潘志刚(David Z. Pan)教授于2011年7月18日至2011年7月23日访问了ylzzcom永利总站线路检测，并做了精彩的学术报告。

7月18日及7月19日，潘志刚教授与我院电子设计自动化（EDA）技术研究所、光电技术研究所、光信息研究所及集成电路设计专业的有关教师、学生深入讨论了深亚微米/纳米芯片物理设计, 可制造性, 可靠性等问题及专业课程、实验设置等，19日下午 3：00-5:00做了题为“"More Moore" and "More than Moore" in Nanometer CMOS and 3D-IC”的学术报告。由于新工艺和设计技术，半导体产业确实是以惊人的跟上摩尔定律的速度发展超过45年之久。在这次讲座中，主要讨论了“摩尔定律”面临的主要挑战和机会如使用计算/下一代超越22nm纳米图形的光刻技术以及“超越摩尔定律”如使用三维穿透硅通过的异质三维集成电路的集成。最近将要呈现出一些研究成果和未来研究的挑战和方向，如双重图形光刻布局分解和物理设计，电子束光刻吞吐量优化和3D-IC TSV的热机械应力，电迁移和可靠性问题。07月20日 参观ylzzcom永利总站线路检测及ylzzcom永利总站线路检测相关实验室，院领导会见了潘志刚教授,并座谈合作等有关事宜，同相关老师探讨了有关科研问题。07月21日，潘志刚教授继续讲学，并于07月22日与有关教师、博士研究生、硕士研究生及本科生召开了研讨会。07月23日，潘志刚教授对老师、同学们提出的问题进行了重点答疑，进行了深入的讨论。对EDA专业及集成电路设计专业的课程、实验设置等提出了诸多很好的建议，为今后ylzzcom永利总站线路检测构建先进的IC设计、科研与教学平台，提升集成电路设计水平提供了很好的机会。

潘志刚博士 (Dr. David Z. Pan), 现任美国德克萨斯大学奥斯汀分校 (University of Texas at Austin) 电子及计算机工程系 (Electrical and Computer Engineering) 终身教授，集成电路设计及自动化实验室主任。他1992年获北京大学理学士, 1994/1998/2000年分别获得加州大学洛杉矶分校(UCLA)大气科学硕士/计算机科学硕士/计算机科学博士学位（获优秀博士奖）。 2000-2003年任职美国IBM T. J. Watson研究中心研究员。

潘教授和他的研究小组在深亚微米/纳米芯片物理设计, 可制造性, 可靠性等前沿领域做出了许多开创性的研究。他拥有8项美国专利，发表了140多篇论文。他荣获过20多个国际重要奖项，包括：美国自然科学基金事业奖 (NSF CAREER Award); 美国计算机协会 (ACM) 设计自动化分会 (SIGDA) 杰出新教授奖（每年授予1位杰出助理教授）; 加州大学洛杉矶分校工学院 (UCLA Engineering) 杰出年青校友奖（每年授予1位毕业10年之内的杰出校友）；美国电气和电子工程师协会 (IEEE) 杰出讲师 (Distinguished Lecturer); 四次获得IBM 教授奖 (IBM Faculty Award); 三次获得半导体研究财团 (SRC) 发明奖 (Inventor Recognition Award); 多次荣获国际顶尖会议， 如ASPDAC, DATE, ISPD的最佳论文奖 (Best Paper Award)；收录在美国名人录 (Marquis Who's Who in America)。

潘教授的社会兼职包括：担任许多顶尖国际期刊(如IEEE TCAD, TVLSI, TCAS-I, TCAS-II, JCST)的编委，国际会议及学会的主席等职；担任过许多国际知名公司（如IBM, Intel, Qualcomm, Fujitsu, Oracle/Sun, Cadence, Pyxis, Synopsys）的顾问或主持合作项目。